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Thick 800A镀层测厚仪
技术指标 型号:Thick 800A 元素分析范围从硫(S)到铀(U)。 一次可同时分析zei多24个元素,五层镀层。 分析检出限可达2ppm,zei薄可测试0.005μm
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天瑞Thick 600 X荧光镀层测厚仪
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天瑞Thick800A X荧光镀层测厚仪
技术指标型号:Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀(U)。同时可以分析30种以上元素,五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)任意多个
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Thick 8000镀层测厚仪
! Thick 8000镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。 性能优势
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镀层测厚仪Thick880
% ~ 70% 电源要求 AC 220V±5V, 50/60HZ 超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面 产品简介: X射线镀层测厚仪
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精谱 THICK900 系列镀层测厚仪
THICK900系列X荧光分析仪专为在极微小结构上进行高精度镀层厚度测量和材料分析而设计的。该系列仪器均配备用于聚焦X射线束,短时间内就可形成高强度聚焦射线。除了镀层分析,还可以加装全元素
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MAXXI 6 X射线荧光镀层测厚仪
获得准确的数据。 基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。微束
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THICK680测厚仪(X荧光光谱仪)
观察:CCD摄像头测定软件:薄膜FP法、检量线法Z轴程控移动高度:20mm 标准配置X射线管,正比记数盒,高清摄像头,高度激光,信号检测电子电路。 适用于线路板/板材/镀层测厚,高灵敏度
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X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪
获得准确的数据。 基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。微束
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菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。它是由大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型仪器上发展而来的。与上一代
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